Gestão de ativos físicos: análise de custos de exploração de equipamentos com base na sua fiabilidade

Na sequência do nosso artigo anterior [1], onde se propõe uma metodologia de melhoria da fiabilidade tendo em conta não só a escolha dos níveis mais adequados, mas também os custos inerentes permitindo a sua otimização, neste trabalho complementar apresenta-se um estudo relacionado com os custos de aquisição e de exploração dos equipamentos, tendo igualmente em consideração a sua fiabilidade e disponibilidade operacionais.

Introdução

No nosso artigo anterior [1] tivemos ocasião de apresentar os conceitos e as definições de fiabilidade, bem, avaria e falha, de acordo com a normalização em vigor [2, 3, 4], sendo conveniente ter-se presente que a fiabilidade representa a probabilidade de um bem funcionar satisfatoriamente, isto é, de cumprir a função para a qual foi dimensionado, durante um certo intervalo de tempo. Quanto ao conceito de bem representa qualquer elemento, componente, aparelho, subsistema, unidade funcional, equipamento ou sistema que pode ser considerado individualmente, sendo usual, em manutenção industrial, classificar os bens em componentes, órgãos, equipamentos e sistemas, numa escala de complexidade crescente [5]. Conforme exposto em [5], o cálculo da fiabilidade carece de informações oriundas dos fabricantes dos bens, dos seus utilizadores e de bases de dados tornadas públicas.

Quanto aos fabricantes, utilizam ensaios normalizados, sendo os resultados obtidos independentes das aplicações reais dos bens. Esta fiabilidade resulta assim, da qualidade inerente ao projeto e à construção e é designada por fiabilidade inerente, intrínseca ou à saída da fábrica. No que respeita aos utilizadores, podem fornecer aos fabricantes, periodicamente, os históricos dos acontecimentos dos seus bens, obtidos com base na experiência de funcionamento, de forma a permitirem a atualização e o aumento de informação das bases de dados dos próprios fabricantes, ou então, podem determinar eles próprios a fiabilidade, que é designada por fiabilidade demonstrada ou intrínseca.

C. Pereira Cabrita, CISE – Electromechatronic Systems Research Centre, Universidade da Beira Interior
J. Carlos Matias, Universidade de Aveiro
Professores Catedráticos

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